Muhammad Tanveer Baig verfügbar

Muhammad Tanveer Baig

Systemarchitekt

verfügbar
Profilbild von MuhammadTanveer Baig Systemarchitekt aus Siegen
  • 57074 Siegen Freelancer in
  • Abschluss: Masterabschluss in Physik und Masterabschluss in Informatik
  • Stunden-/Tagessatz: 84 €/Std.
  • Sprachkenntnisse: deutsch (gut) | englisch (verhandlungssicher) | hindi (Muttersprache)
  • Letztes Update: 04.03.2020
SCHLAGWORTE
PROFILBILD
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Lebenslauf

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SKILLS
  • Gute Erfahrung bei der Entwicklung eines Referenzsystems (mit LIDAR, RADAR, Kamera und INS/GNSS-Sensoren), um eine zuverlässige Bodenwahrheit für ADAS-Anwendungen zu generieren.
  • Gute Erfahrung im digitalen / analogen Schaltungsdesign.
  • Gute Erfahrung in der Entwicklung von EMI-Compliance, mehrlagige Leiterplatten.
  • Erfahrung der Firmware-Entwicklung mit Assembler, VHDL und C / C ++.
  • Gute Erfahrung mit Werkzeugen: Multisim, EAGLE, Xilinx ISE und ispLever Classic.
  • Gute Erfahrung der LabVIEW-basierten automatisierten Test- / Datenerfassung mit Echtzeit-Prozessor, Signalgeneratoren, digitalen Oszilloskopen und Spektrumanalysatoren etc.
  • Gute Erfahrung bei der Entwicklung von Wendelantennen und tiefen Drift abstimmbaren Helix-Resonatoren.
  • Gute Kenntnisse von OOAD mit UML, Software-Projektmanagement, Operations
  • Research, Software-Qualitätssicherung und Softwareprüfung.
  • Gute Kenntnisse in MS Project, Visio, Rational Rose, WinRunner, Test Director.
  • Sehr gute Erfahrung im sicheren Betrieb von Hochdruck- und Mehrstufen-
  • Kompressoren / Pumpen, Reaktoren, Schiffen, Wärmetauscher und Verdampfern etc.
  • Gute Kenntnisse der Prozessautomatisierung mit Siemens S7 TIA Portal und WinCC.
PROJEKTHISTORIE
  • A scalable, fast, and multichannel arbitrary waveform generator (http://dx.doi.org/10.1063/1.4832042)
  • A planar ion trap chip with integrated structures for an adjustable magnetic field gradient (https://link.springer.com/article/10.1007%2Fs00340-013-5722-9)
  • Thick-film technology for ultra high vacuum interfaces of micro-structured traps (https://link.springer.com/article/10.1007%2Fs00340-012-4951-7)
  • Ion-trajectory analysis for micromotion minimization and the measurement of small forces (https://journals.aps.org/pra/abstract/10.1103/PhysRevA.92.043421)
  • Fault-tolerant Hahn-Ramsey interferometry with pulse sequences of alternating detuning (https://journals.aps.org/pra/abstract/10.1103/PhysRevA.91.033406)
ZEITLICHE UND RÄUMLICHE VERFÜGBARKEIT
Ganzes Deutschland
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